Mak: NANBEI
Modèl: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), yon enstriman analyse ki ka itilize pou etidye estrikti sifas materyèl solid, ki gen ladan izolan.Li etidye estrikti sifas ak pwopriyete yon sibstans lè li detekte entèraksyon entèatomi ki fèb ant sifas echantiyon yo dwe teste ak yon eleman sansib mikwo-fòs.