fòs atomik afm mikwoskòp
Atomic Force Microscope (AFM), yon enstriman analyse ki ka itilize pou etidye estrikti sifas materyèl solid, ki gen ladan izolan.Li etidye estrikti sifas ak pwopriyete yon sibstans lè li detekte entèraksyon entèatomi ki fèb ant sifas echantiyon yo dwe teste ak yon eleman sansib mikwo-fòs.Pral yon pè nan fòs fèb ekstrèmman sansib mikwo-cantilever fen fiks, lòt bout nan ti pwent an fèmen nan echantiyon an, Lè sa a, li pral kominike avèk li, fòs la pral fè deformation nan mikwo-cantilever oswa chanjman eta mouvman.Lè optik echantiyon an, Capteur a ka itilize pou detekte chanjman sa yo, nou ka jwenn distribisyon enfòmasyon fòs, konsa tankou jwenn mòfoloji sifas nan enfòmasyon nano-rezolisyon ak enfòmasyon brutality sifas yo.
★ Entegre optik pwofonde ak echantiyon stag amelyore kapasite nan anti-entèferans.
★ Precision lazè ak aparèy pwezante pwofonde fè chanje sond la ak ajiste plas la senp ak pratik.
★ Lè l sèvi avèk echantiyon an pwofonde fason apwoche, zegwi a ta ka pèpandikilè ak optik echantiyon an.
★ Otomatik batman kè motè kondwi kontwòl echantiyon pwofonde vètikal apwoche, reyalize pwezante egzak nan zòn nan optik.
★ Egzanp optik zòn nan enterè te kapab lib deplase lè l sèvi avèk desen an nan aparèy mobil echantiyon segondè presizyon.
★ Sistèm obsèvasyon CCD ak pwezante optik reyalize obsèvasyon an tan reyèl ak pwezante nan zòn eskanè echantiyon ankèt la.
★ Desen an nan sistèm kontwòl elektwonik nan modularizasyon fasilite antretyen ak amelyorasyon kontinyèl nan kous.
★ Entegrasyon an nan sikwi kontwòl mòd miltip optik, kolabore ak sistèm lojisyèl.
★ Spring sispansyon ki senp ak pratik amelyore kapasite anti-entèferans.
| Mòd travay | FM-Tapping, kontak si ou vle, friksyon, faz, mayetik oswa elektwostatik |
| Gwosè | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Scanningrange | 20 mmmin direksyon XY,2 mm nan direksyon Z. |
| Rezolisyon eskanè | 0.2nm nan direksyon XY,0.05nm nan direksyon Z |
| Mouvman ranje echantiyon | ± 6.5mm |
| Lajè batman kè motè a apwoche | 10±2ms |
| Pwen echantiyon imaj | 256×256,512×512 |
| Agrandisman optik | 4X |
| Rezolisyon optik | 2.5 mm |
| Pousantaj eskane | 0.6Hz ~ 4.34Hz |
| Scan ang | 0 ° ~ 360 ° |
| Kontwòl eskanè | 18-bit D/A nan direksyon XY,16-bit D/A nan direksyon Z |
| Done echantiyonaj | 14-bitA / D,double16-bit A/D milti-chanèl echantiyon synchrone |
| Feedback | DSP dijital fidbak |
| Pousantaj echantiyon fidbak | 64.0KHz |
| Koòdone òdinatè | USB2.0 |
| Anviwònman fonksyònman | Windows98/2000/XP/7/8 |